靈活的臺式表面形貌測量設備

ContourX-200光學輪廓儀融合了表征、可定制選項和易用性等特點，可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。ContourX-200還配有分析軟件Vision64®。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能，可訪問多種預編程濾鏡和分析工具，用于加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。

高性能表面計量

* 與放大倍率無關的Z軸分辨率

* 大尺寸的標準視場

* 穩定集成防震設計

高性能測量與分析功能

* 易于使用的界面，可快速準確地獲得結果

* 自動化功能用于日常測量和分析

* 廣泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關鍵尺寸測量分析

* 滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定制化分析報告